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涂层测厚仪的最新技术简介

发布日期:2014-07-08 点击:1512

涂层测厚仪的较新技术简介

   涂层测厚仪的较新技术目前,国内国外不管是出名的品牌还是一般的生产厂家,其测厚仪的操作方法均需要如下步骤:1调零,即在特定的零板上调零,或在需要测量的原基材上调零;2根据测量产品的不同测量范围,用适当的测试片调值,以减少测量上的误差。这种方法一般情况下,仪器新购使用时还是没有什么问题的,只是比较繁琐一点。但当探头使用一段时间后,问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。很难把握。原因在于产品的原理,这是一个致命的缺陷,即探头是使用一根磁铁绕线圈。通上电流后产生磁场,这个磁场是不规则的。还好,现在有一款新型的涂层测厚仪,它采用的是较新的磁感技术。也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,霍尔发现这个电位差UH与电流强度I H成正比,与磁感应强度B成正比,与薄片的厚度d成反比。这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时,使用更为简单和方便了。

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