您的位置:首页 >> 新闻动态 >> 天友利公司动态 >> 牛津仪器近几年检测技术的发展

天友利公司动态

牛津仪器近几年检测技术的发展

发布日期:2014-07-08 点击:2205

     过去3年,超大面积硅漂移检测仪器CMI200测厚仪系列系列在市场一直占有主导地位。日前牛津仪器发布了该系列的新一代产品,新产品具备更为卓越的分析性能,分辨率可达0.1μm。 
     牛津仪器一直致力于科技创新,运用较新科技成果提供世界一流产品。这一优良传统不断促进硅漂移检测技术的发展。CMI200测厚仪系列新产品的问世,意味着该技术取得前所未有的突破与发展。

     CMI200测厚仪系列新产品性能升级,是检测面积、速度和分辨率的更佳组合。该产品具有在指定扫描时间内自动平均读数,且仍能保持高计数率、快速成像、以及优异的检测分析性能。
我们是牛津测厚仪中国一级代理,专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测 厚仪行情、涂层测厚仪参数、涂层测厚仪应用、涂层测厚仪维修、涂层测厚仪保养、涂层测厚仪报价、涂层测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题

 

Copyright © 2021 深圳市天友利标准光源有限公司. All Rights Reserved.       粤ICP备08127874号       XML地图       深圳市市场监督管理局企业主体身份公示

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

0755-26508999

扫一扫,关注我们