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测厚规(布料/薄膜)
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   SM-112测厚规

品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm

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   SM-1201精密型测厚表

品牌:TECLOCK(日本得乐)

测量范围:0-10mm

最小读数:0.001mm

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   SM-114测厚规

品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:120mm

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   TM-1201得乐千分表

品牌:TECLOCK(日本得乐)

测量范围:0-1mm

最小读数:0.001mm


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