您的位置:首页 >> 产品中心 >> 涂层测厚仪 >> 测厚规/百分表 >> 日本得乐SM-112测厚规

测厚规/百分表

日本得乐SM-112测厚规

  • 日期:1970-01-01

简要描述:品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 测量范围:0-10mm...

详细介绍

SM-112测厚规 
 
品牌:TECLOCK(日本得乐)

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm


产 品 介 绍  
 
订购编号:20705

原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数:

指式方式:指针式

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm

体积大小:(W*D*H)87*23*105mm

重量:150g



推荐产品

Copyright © 2021 深圳市天友利标准光源有限公司. All Rights Reserved.       粤ICP备08127874号       XML地图       深圳市市场监督管理局企业主体身份公示

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

0755-26508999

扫一扫,关注我们